Thông tin tài liệu

Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.editorYaqing Chi, Li Cai, Chang Caivi
dc.date.accessioned2025-03-13T04:12:59Z-
dc.date.available2025-03-13T04:12:59Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.isbn978-3-7258-1482-4vi
dc.identifier.otherOER000005559vi
dc.identifier.urihttp://dlib.hust.edu.vn/handle/HUST/26574-
dc.descriptionEbook miễn phí tại trang https://directory.doabooks.orgvi
dc.description.abstractNội dung cuốn sách mô tả các cơ chế của hiệu ứng bức xạ cho các thiết bị , và giải pháp mới để đánh giá và giảm thiểu độ nhạy bức xạ trong các thiết bị và mạch tích hợp. Trình bày các phương pháp và mô hình mới dự đoán cách bức xạ tác động đến các thiết bị và mạch điện tử.vi
dc.description.urihttps://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/139445vi
dc.formatPDFvi
dc.language.isoenvi
dc.publisherMDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institutevi
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Vietnam*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/vn/*
dc.subjectThiết bị điện tửvi
dc.subjectMạch điện tửvi
dc.subjectBức xạvi
dc.subject.lccTK7870.285vi
dc.titleRadiation Effects of Advanced Electronic Devices and Circuitsvi
dc.typeEbooks (Sách điện tử)vi
Appears in Collections:OER - Kỹ thuật điện; Điện tử - Viễn thông

Files in This Item:
Thumbnail
  • OER000005559.pdf
      Restricted Access
    • Size : 4,65 MB

    • Format : Adobe PDF



  • This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons