Thông tin tài liệu
| Title: | Electromagnetic Interference and Compatibility |
| Editors: | Paolo Stefano Crovetti |
| Keywords: | Mạch điển tử; Nhiễu điện từ; Tương thích điện từ |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute |
| Abstract: | Cuốn sách cung cấp một bức tranh sống động về các xu hướng nghiên cứu và phát triển mới trong quá trình phát triển của tương thích điện từ - EMC, gồm cả các vấn đề về điện tử và tính chất của vật liệu điện từ. |
| Description: | Ebook miễn phí tại trang https://directory.doabooks.org |
| URI: | http://dlib.hust.edu.vn/handle/HUST/26854 |
| Link item primary: | https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/76408 |
| ISBN: | 978-3-0365-0501-5 |
| Appears in Collections: | OER - Kỹ thuật điện; Điện tử - Viễn thông |
ABSTRACTS VIEWS
0
VIEWS & DOWNLOAD
0
Files in This Item:
This item is licensed under a Creative Commons License
