1

Đề tài: Nghiên cứu và thiết kế mạch tự kiểm tra và phân tích lỗi cho bộ nhớ
Tác giả luận văn: Lê Hải Anh Khóa: 2011B
Người hướng dẫn: TS. Nguyễn Vũ Thắng

a. 
Một thành phần quan trọng không thể thiếu trong chip SoC các bộ nhớ nhúng. Quy
trình công nghệ càng tiến tiến; bộ nhớ nhúng càng được thu nhỏ, có mật độ tích hợp và
kích thước càng lớn. Đi cùng với những ưu điểm đó, một nhược điểm lớn bộ nhớ
nhúng có thể chứa rất nhiều lỗi.
Do đó, một vấn đề rất quan trọng đã được nghiên cứu triển khai từ rất sớm làm
thế nào để kiểm tra, phân tích được lỗi trong các bộ nhớ nhúng của chip SoC. Từ đó
các thiết kế thể sớm xác định được nguyên nhân y ra lỗi cải tiến thiết kế
của các bộ nhớ nhúng. Một hệ thống SoC với các bộ nhớ đã được kiểm tra không
lỗi một hệ thống ổn định, đáng tin cậy sẽ được sử dụng trong các thiết bị điện
tử hiện đại.
Hiện nay rất nhiều phương pháp để kiểm tra bộ nhớ. Tuy nhiên, giải pháp tốt nhất
được sử dụng rộng rãi trong các công ty thiết kế SoC mạch logic tự kiểm tra lỗi
BIST cho bộ nhớ. Đề tài luận văn y nghiên cứu đưa ra 1 thiết kế mạch logic tự
kiểm tra và phân tích lỗi cho bộ nhớ với một số cải tiến mới.

- Mục đích nghiên cứu là đưa ra một giải pháp cho việc kiểm tra bộ nhớ nhúng.
- Các đối tượng nghiên cứu bộ nhớ nhúng, hình lỗi, thuật toán kiểm tra, kỹ
thuật kiểm tra.
- Phạm vi nghiên cứu được tập trung vào nghiên cứu bộ nhớ SRAM, các hình
lỗi của bộ nhớ SRAM, nghiên cứu các thuật toán March, nghiên cứu các k thuật kiểm
tra BIST.
- Lựa chọn và triển khai thiết kế mạch logic tự kiểm tra và phân tích lỗi.
2

- Thiết kế sử dụng nhiều thuật toán March để kiểm tra giúp phát hiện được nhiều loại
lỗi.
- Thông tin về các thuật toán được lưu trữ bằng một cách nén dữ liệu mới do đó tiết
kiệm mạch logic BIST nhưng vẫn có hiệu suất hoạt động cao.
- Ngoài ra, thiết kế còn kết hợp với phần mềm xử dữ liệu giúp phân tích chính xác
loại lỗi từ đó xác định được nguyên nhân gây lỗi.
- Thiết kế mạch BIST phù hợp với nhiều loại bộ nhớ nhúng, khả năng mở rộng với
nhiều tính năng.
d. 
- Dựa trên các tài liệu tham khảo, khảo sát thực tế, xu hướng của nền công nghiệp
bán dẫn.
- Các phương pháp phân tích, so sánh đánh giá ưu nhược điểm của các giải pháp.
- Phương pháp kiểm tra đối chiếu giữa thực tế phỏng, hình hóa, kiểm tra độ
bao phủ.
e. 
- Lựa chọn giải pháp thiết kế BIST là tốt nhất cho kiểm tra bộ nhớ.
- Thiết kế có một số ưu điểm nổi bật.
- Hoàn thiện thiết kế mạch logic tự kiểm tra BIST với các kết quả phỏng, tổng hợp
đạt yêu cầu.
- Hoàn thiện thiết kế phần mềm mô hình hóa mạch BIST và mô hình lỗi cho bộ nhớ.
- Các hướng phát triển tiếp cho đề tài luận văn.