TÓM TẮT LUẬN VĂN THẠC SỸ
Đề tài: Thiết kế và chế tạo hệ thống đánh dấu lỗi vải trên dây chuyền kiểm tra
chất lượng vải tự động.
Tác giả luận văn: Phạm Ngọc Hải Khóa: 2009-2011
Người hướng dẫn khoa học: GS.TS. Phạm Thị Ngọc Yến
Nội dung tóm tắt:
a, Lý do chọn đề tài
Dệt may được coi là một trong những ngành trọng điểm của nền công nghiệp
Việt Nam. Từ năm 2001, Việt Nam có hơn 1000 nhà máy dệt may, thu hút trên 50 vạn
lao động, chiếm đến 22% tổng số lao động trong toàn ngành công nghiệp. Cho đến
năm 2007, ngành dệt may đã đem lại việc làm cho hàng triệu người lao động. Tuy vậy,
trong xu thế hội nhập kinh tế khu vực và quốc tế, ngành dệt may đang phải đối mặt với
nhiều thách thức lớn, phải cạnh tranh ngang bằng với các cường quốc xuất khẩu lớn
như Trung Quốc, Ấn Độ, Inđônêxia, Pakixtan, Hàn Quốc.... Đảm bảo chất lượng sản
phẩm dệt và sản phẩm may là hai yếu tố hàng đầu quyết định sự thành công của ngành
dệt may Việt Nam.
Tại Việt Nam, phần lớn các nhà máy vẫn áp dụng quy trình kiểm tra chất lượng
vải dệt bằng mắt thường, chưa có một hệ thống phát hiện và đánh dấu tự động lỗi trên
vải dệt làm ảnh hưởng rất lớn đến chất lượng và năng suất của sản phẩm. Từ đó nhóm
nghiên cứu tại trung tâm MICA đề xuất đề tài nghiên cứu, chế tạo và đưa vào ứng
dụng thực tế hệ thống tự động nhận dạng và đánh dấu lỗi vải. Luận văn nằm trong
khuôn khổ đề tài tập trung vào “Thiết kế và chế tạo hệ thống đánh dấu lỗi vải trên dây
chuyền kiểm tra chất lượng vải tự động”.
b, Mục đích nghiên cứu của luận văn, đối tượng, phạm vi nghiên cứu
Mục đích: Nghiên cứu, thiết kế chế tạo hệ thống tự động đánh dấu lỗi vải phù
hợp với các máy móc hiện trường và các hệ thống nhận dạng lỗi vải.
Đối tượng: Áp dụng trong các nhà máy dệt và may tại Việt Nam.
Phạm vi nghiên cứu: Nghiên cứu chế tạo hệ thống đánh dấu lỗi vải phù hợp với
máy tời vải có sẵn ở cơ sở sản xuất.
c, Nội dung chính của luận văn và các đóng góp mới của tác giả
Nội dung của luận văn được chia làm 5 chương với các nội dung cơ bản như sau:
