Duyệt

Hồ sơ tác giả

Topic

EB - Cơ khí

URL

Duyệt EB - Cơ khí theo Chủ đề "Diot phát quang"

Duyệt theo:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Hoặc nhập chữ cái đầu tiên:
Đang hiển thị 1 - 1 của tổng số 1 kết quả
Hiển thị
Hình ảnh thu nhỏ
Ấn phẩm
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

2023, Tan, Cher Ming

Độ tin cậy và phân tích hỏng hóc của vật liệu bao bì LED công suất cao, với mục tiêu cuối cùng là phát triển các vật liệu bao bì mới.; Các hạn chế của các tiêu chuẩn độ tin cậy hiện tại trong việc xác định tuổi thọ của LED công suất cao do thiếu sự hiểu biết sâu sắc về vật liệu bao bì và sự tương tác giữa chúng; Cơ chế hỏng hóc mới được nghiên cứu và trình bày, xem xét các loại căng thẳng khác nhau do điều kiện môi trường thay đổi; Các cơ chế hỏng hóc chi tiết là đặc trưng của cuốn sách này và sẽ cung cấp cái nhìn cho độc giả về các cơ chế hỏng hóc có thể xảy ra ở LED công suất cao; Tầm quan trọng của mô phỏng trong việc hiểu các cơ chế hỏng hóc tiềm ẩn trong LED; Mô phỏng, việc sử dụng các công cụ phá hủy và không phá hủy khác nhau như C-SAM, SEM, FTIR, Kính hiển vi quang học, v.v. để điều tra nguyên nhân hỏng hóc của LED cũng được xem xét.